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              咨詢熱線

              13391963537

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              涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

              簡要描述:涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
              德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
              MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
              所有型號均可配所有探頭:

              • 廠商性質:經銷商
              • 更新時間:2021-05-12
              • 訪  問  量:924

              詳細介紹

              涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

              型號

              1100

              2100

              3100

              4100

              MINITEST 存儲的數據量
              應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

              1

              1

              10

              99

              每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值)

              -

              1

              10

              99

              可用各自的日期和時間標識特性的組數

              -

              1

              500

              500

              數據總量

              1

              10000

              10000

              10000

              MINITEST統計計算功能
              讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

              -

              讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

              -

              -

              組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

              -

              -

              組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

              -

              -

              存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

              -

              -

              -

              分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

              -

              -

              顯示并打印測量值、打印的日期和時間

              -

              其他功能
              透過涂層進行校準(CTC)

              -

              在粗糙表面上作平均零校準

              利用計算機進行基礎校準

              補償一個常數(Offset)

              -

              -

              外設的讀值傳輸存儲功能

              -

              保護并鎖定校準設置

              更換電池是存儲數值

              設置極限值

              -

              -

              公英制轉換

              連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

              -

              -

              連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

              -

              -

              浮點和定點方式數據傳送

              組內單值延遲顯示

              -

              連續測量模式中顯示zui小值


              可選探頭參數
              所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
              F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
              N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
              FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

              探頭

              量程

              低端
              分辨率

              誤差

              zui小曲率
              半徑(凸/凹)

              zui小測量
              區域直徑

              zui小基
              體厚度

              探頭尺寸




              F05

              0-500μm

              0.1μm

              ±(1%±0.7μm)

              1/5mm

              3mm

              0.2mm

              φ15x62mm

              F1.6

              0-1600μm

              0.1μm

              ±(1%±1μm)

              1.5/10mm

              5mm

              0.5mm

              φ15x62mm

              F1.6/90

              0-1600μm

              0.1μm

              ±(1%±1μm)

              平面/6mm

              5mm

              0.5mm

              φ8x170mm

              F3

              0-3000μm

              0.2μm

              ±(1%±1μm)

              1.5/10mm

              5mm

              0.5mm

              φ15x62mm

              F10

              0-10mm

              5μm

              ±(1%±10μm)

              5/16mm

              20mm

              1mm

              φ25x46mm

              F20

              0-20mm

              10μm

              ±(1%±10μm)

              10/30mm

              40mm

              2mm

              φ40x66mm

              F50

              0-50mm

              10μm

              ±(3%±50μm)

              50/200mm

              300mm

              2mm

              φ45x70mm


              FN1.6

              0-1600μm

              0.1μm

              ±(1%±1μm)

              1.5/10mm

              5mm

              F0.5mm
              N50μm

              φ15x62mm

              FN1.6P

              0-1600μm

              0.1μm

              ±(1%±1μm)

              平面

              30mm

              F0.5mm
              N50μm

              φ21x89mm

              FN2

              0-2000μm

              0.2μm

              ±(1%±1μm)

              1.5/10mm

              5mm

              F0.5mm
              N50μm

              φ15x62mm




              N02

              0-200μm

              0.1μm

              ±(1%±0.5μm)

              1/10mm

              2mm

              50μm

              φ16x70mm

              N.08Cr

              0-80μm

              0.1μm

              ±(1%±1μm)

              2.5mm

              2mm

              100μm

              φ15x62mm

              N1.6

              0-1600μm

              0.1μm

              ±(1%±1μm)

              1.5/10mm

              2mm

              50μm

              φ15x62mm

              N1.6/90

              0-1600μm

              0.1μm

              ±(1%±1μm)

              平面/10mm

              5mm

              50μm

              φ13x170mm

              N10

              0-10mm

              10μm

              ±(1%±25μm)

              25/100mm

              50mm

              50μm

              φ60x50mm

              N20

              0-20mm

              10μm

              ±(1%±50μm)

              25/100mm

              70mm

              50μm

              φ65x75mm

              N100

              0-100mm

              100μm

              ±(1%±0.3mm)

              100mm/平面

              200mm

              50μm

              φ126x155mm

              CN02

              10-200μm

              0.2μm

              ±(1%±1μm)

              平面

              7mm

              無限制

              φ17x80mm

              注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
              N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
              CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。


              探頭圖示

              FN1.6探頭德國EPK FN1.6
              0~1600μm,φ5mm
              兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
              量程低端分辨率很高(0.1μm)
               
              FN1.6P探頭德國EPK FN1.6P
              0~1600μm,φ30mm
              兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度

               
              FN05探頭德國EPK F05
              0~500μm,φ3mm
              磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
              量程低端分辨宰很高(0.1μm)
               
              FN05探頭德國EPK F1.6
              0~1600μm,φ5mm
              磁性測頭
              量程低端分辨率很高(0.1μm)
               
              FN3探頭德國EPK F3
              0~3000μm,φ5mm
              磁性測頭
              可用于較厚的覆層
               
              FN1.6/90探頭德國EPK F1.6/90
              0~1600μm,φ5mm
              90度磁性測頭
              尤其適合于在管內壁測量
              量程低端分辨率很高(0.1μm)
               
              FN10探頭德國EPK F10
              0~10mm,φ20mm
              適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

               
              FN20探頭德國EPK F20
              0~20mm,φ40mm
              適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 
               
              FN50探頭德國EPK F50
              0~50mm,φ300mm
              適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
               
              N02探頭德國EPK N02
              0~200μm,φ2mm
              非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
              量程低端分辨率很高(0.1μm)
               
              N08cr探頭德國EPK N0.8Cr
              0~80μm,φ2mm
              適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
               
              N1.6探頭德國EPK N1.6
              0~1600μm,φ2mm
              非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
              量程低端分辨率很高(0.1μm)
               
              N1.6/90探頭德國EPK N1.6/90
              0~1600μm,φ5mm
              磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
              尤其適合在管內壁測量
              量程低端分辨率很高(0.1μm)
               
              N10探頭德國EPK N10
              0~10mm,φ50mm
              非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
               
              N20探頭德國EPK N20
              0~20mm,φ70mm
              非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
               
              N100探頭德國EPK N100
              0~100mm,200mm
              非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
              CN02探頭德國EPK CN02
              10~200μm,φ7mm
              用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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